Add to Quick Collection
All 2 Results
Showing items 1 - 2 of 2.
Add All Items to Quick Collection
Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2020. № 52. С. 123-129
Type: статьи в журналах
Date: 2020
Description:
Рассматривается методика оценки качества диагностических тестов на моделях цифровых устройств, стандартизованных международным симпозиумом IEEE. Методика ориентирована на использование современных про
... More
Source: Прикладная дискретная математика. Приложение. 2013. № 6. С. 36-38
Type: статьи в журналах
Date: 2013